本导图以红外吸收技术为核心,详细阐述了半导体中杂质和缺陷的检测原理、类型、分析方法及相关技术,为读者提供了一个清晰的知识框架。

© 2024 深圳市雅都软件股份有限公司   |  粤ICP备06065707号-5   |  粤公网安备44030002004401号